关键词：氧化铝、、
、纯度、、
、Zeta电位

氧化铝是一种常见的无机氧化物，，其宽泛利用于陶瓷、、
、医药、、
、电子、、
、机械等行业。氧化铝的纯度分歧，，利用的领域也有所差距，，例如：99氧化铝瓷资料用于制作高温坩埚、、
、耐火炉管及特殊耐磨资料，，如陶瓷轴承、、
、陶瓷密封件及水阀片等；；；95氧化铝瓷重要用作耐侵蚀、、
、耐磨部件。物质的组成分歧其理论带电也拥有极大差距，，蕴含电性和带电量，，而理论带电情况将会影响资料的机能和利用领域。在这个利用中，，我们调查了分歧纯度的氧化铝资料在分歧pH值环境中的Zeta电位。

道理和设备

选取amjs澳金沙门151的BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪以及BAT-1自动滴定仪

电泳光散射技术ELS是利用激光照射在样品溶液或者悬浮液上，，检测前向角度的散射光信号。在样品两端施加一个电场，，样品中的带电颗粒在电场力的驱动下进行电泳活动。由于颗粒的电泳活动，，样品的散射光的频率会产生一个频移，，即多普勒频移。利用数学步骤处置散射光信号，，得到散射光的频率移动，，进而得到颗粒的电泳活动速度，，即电泳迁徙率μ。通过Herry方程，，我们把颗粒的电泳迁徙率和其Zeta电位ζ联系起来：

其中ε为介电常数，，η为溶剂粘度，，f(κα)为Henry函数，，κ为德拜半径倒数，，α代表粒径，，κα代表了双电层厚度和颗粒半径的比值。

我们选取amjs澳金沙门151的BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪进行测试。仪器使用波长671nm，，功率50mW激光器作为光源，，设置在12度角的APD检测器进行散射光信号采集。选取PALS相位分析光散射技术，，能够有效检测低电泳迁徙率样品的Zeta电位信息。

样品制备和测试前提

别离将纯度为95%和99%的氧化铝，，依照0.2mg/ml配比分散在蒸馏水中，，使用50W超声波将其分散3min后得到两份苹叫样品。通过BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪和BAT-1自动滴定仪相共同，，以样品分散后的pH环境为起点，，使用HCl滴定液向低pH领域滴定，，使用NaOH滴定液向高pH领域滴定，，测试pH距离为1，，检测pH值设定在2-12之间Zeta电位的变动。

测试了局和会商

图1.95%氧化铝和99%氧化铝Zeta电位pH滴定了局

物质的Zeta电位由其理论的化学组成和周围的液体环境决定，，固然这两个样品的重要成分都是氧化铝，，但是其纯度有所差距，，95%的氧化铝含有更多其他组分化学物质。通过图1对于两个分歧纯度的氧化铝样品的Zeta电位pH滴定了局能够看到，，使用同样的蒸馏水进行超声分散，，95%氧化铝样品的初始pH值在10左右，，悬浮系统出现弱碱性，，滴定曲线的等电点为7.86；；；而99%氧化铝的分散后悬浮系统为pH值在7左近的近中性系统，，等电点为5.18。由此能够得出对于统一物质而言，，其纯度分歧，，对其Zeta电位的影响是巨大的。